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測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的方法

更新時間:2021-06-04      點擊次數(shù):2170
  測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻
 
  (包括米波波長在內(nèi))
 
  下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法
 
  范圍
 
  本標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定了在15Hz-300MHz的頻率范圍內(nèi)測量電容率、介質(zhì)損耗因數(shù)的方法,并由此計算某些數(shù)值,如損耗指數(shù)。本標(biāo)準(zhǔn)中所敘述的某些方法,也能用于其他頻率下測量。
 
  本標(biāo)準(zhǔn)適用于測量液體、易熔材料以及固體材料。測試結(jié)果與某些物理條件有關(guān),例如頻率、溫度、濕度,在特殊情況下也與電場強度有關(guān)。
 
  有時在超過1000V的電壓下試驗,則會引起一些與電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)無關(guān)的效應(yīng),對此不予論述。
 
  規(guī)范性引用文件
 
  下列文件中的條款通過本標(biāo)準(zhǔn)的引用而成為本標(biāo)準(zhǔn)的條款。凡是注日期的引用文件,其隨后所有的修改(不包括勘誤的內(nèi)容)或修訂版均不適用于本標(biāo)準(zhǔn),然而,鼓勵根據(jù)本標(biāo)準(zhǔn)達成協(xié)議的各方研究是否可使用這些文件的版本。凡是不注日期的引用文件,其版本適用于本標(biāo)準(zhǔn)。
 
  IEC60247:1978 液體絕緣材料相對電容率、介質(zhì)損耗因數(shù)和直流電阻率的測量
 
  術(shù)語和定義
 
  下列術(shù)語和定義適用于本標(biāo)準(zhǔn)。
 
  3.1  相對電容率 relative permittivity
 
  εr
 
  電容器的電極之間及電極周圍的空間全部充以絕緣材料時,其電容Cx與同樣電極構(gòu)形的真空電容C0之比:
 
  式中:
 
  εr——相對電容率;
 
  Cx——充有絕緣材料時電容器的電極電容;
 
  C0——真空中電容器的電極電容。
 
  在標(biāo)準(zhǔn)大氣壓下,不含二氧化碳的干燥空氣的相對電容率εr等于1.00053。因此,用這種電極構(gòu)形在空氣中的電容Ca來代替C0測量相對電容率εr時,也有足夠的度。
 
  在一個測量系統(tǒng)中,絕緣材料的電容率是在該系統(tǒng)中絕緣材料的相對電容率εr與真空電氣常數(shù)ε0的乘積。
 
  在SI制中,電容率用法/米(F/m )表示。而且,在SI單位中,電氣常數(shù)ε0為:
 
  在本標(biāo)準(zhǔn)中,用皮法和厘米來計算電容,真空電氣常數(shù)為:      …………(3)
 
  3.2  介質(zhì)損耗角 dielectric loss angle
 
  δ
 
  由絕緣材料作為介質(zhì)的電容器上所施加的電壓與由此而產(chǎn)生的電流之間的相位差的余角。
 
  3.3  介質(zhì)損耗因數(shù)  dielectric dissipation factor
 
  tanδ
 
  損耗角δ的正切。
 
  3.4  〔介質(zhì)〕損耗指數(shù)  [dielectric] loss index
 
  εr”
 
  該材料的損耗因數(shù)tanδ與相對電容率εr的乘積。
 
  3.5  復(fù)相對電容率  complex relative permittivity
 
  εr
 
  由相對電容率和損耗指數(shù)結(jié)合而得到的:
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